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產(chǎn)品中心納米壓痕儀
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更新時間：2025-09-26
產(chǎn)品型號：In-SEM HT
瀏覽量：2199
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試、力學(xué)性能譜圖、納米動態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試，可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。還可以進(jìn)行快速壓痕測量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均均相材料的重要手段。
更新時間：2025-09-26產(chǎn)品型號：Nano Flip瀏覽量：2319